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HX-Probe光笔的单点探测能直接转化为可用于检测的精准几何特征。
特征创建:在工件表面、孔位、球体上采集离散测点,可在 Innov3DStudio 计量软件中分别拟合出平面、圆、球体等实际几何特征。
尺寸检测:基于拟合出的特征,可直接获取圆孔孔径、两孔间距等尺寸数据,还能将实际基准特征用于 RPS 对齐,使工件与 CAD 模型进入统一测量坐标。
协同检测:光笔负责快速获取关键几何特征,三维扫描仪负责采集完整表面数据,二者可在同一检测流程中无缝融合,无需借助第三方软件。光笔与三维扫描仪的协同能覆盖从局部到整体的完整三维检测流程。
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